Измеритель RLC разработан специально для быстрого тестирования SMD компонентов (резисторов, конденсаторов, индуктивностей, диодов, светодиодов) без переключения режимов.

Высокопроизводительный портативный пинцет мультиметр НВ-19 сочетает в себе щупы для пинцета с измерителем импеданса. Измерение емкости 0...1Ф, индуктивности 0...200Гн, сопротивления 0...20МОм, добротности, тангенса угла потерь, фазового угла, сопротивления на постоянном токе.

Области применения. 

• выборочный контроль качества на производственной линии
• тестирование компонентов в ремонтных мастерских и сервисных службах
• сортировка и отбор компонентов по параметрам
• входной контроль при приёмке партии (особенно в полевых условиях)
• лабораторные исследования параметров при разработке и тестировании
• протоколирование измерений

Основные характеристики

• базовая погрешность 0,2%
• максимальная тестовая частота 100 кГц
• испытательные напряжения 0,1В_СКЗ, 0,5В_СКЗ, 1 В_СКЗ
• режим автоматического определения и измерения компонентов с выбором оптимальной частоты.
• режим автоматическое снижения уровня тестового сигнала до 100мВскз при внутрисхемных измерениях.
• ВАХ элементов
• функция удержания показаний
• режим относительных измерений
• отображения на экране при работе правой или левой рукой.
• автоматическое отключение при бездействии.
• яркий ЖК-дисплей с подсветкой, аккумулятор Li-Pol 3.7В , малые габариты 167x24x15 мм; масса 42-45 гр.
• имеет дополнительные функции тесты диодов - светодиодов, генератор сигналов.

Версии с  Bluetooth   

   Наиболее очевидная разница между моделями НВ19 и НВ17 - это дизайн. Уменьшены размеры, модернизированы щупы пинцета. Применены удобные для рук резиновые накладки на щупы, позолоченные наконечники. Навигация с помощью поворотного переключателя была заменена на 4-позиционной навигационной кнопкой. Это позволяет пользователям изменять основные функции тестирования прямо с главного экрана. Сопротивление источника сигнала было уменьшено до 200 Ом и увеличен тестовый сигнал до 1В_СКЗ, что позволило повысить точность при тестировании.